快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
性能特點 ■ 測試頻率:10Hz-130MHz ■ 高精度:采用自動平衡電橋技術,四端對測試配置 ■ 高穩(wěn)定性和一致性 ■ 高速度:*快達2.5ms的測試速度 ■ 高分辨:10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800 ■ 點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式 ■ 1601點多參數(shù)列表掃描功能 ■ 四參數(shù)測量 ■ 自動電平控制(ALC)功能 ■ 4通道圖形掃描功能,每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有14種分屏顯示方式 ■ 強大的分選:LCR模式10檔分選 ■ 圖形掃描模式每條曲線單獨分選 ■ 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A
應用 ■ 無源元件: 電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。 ■ 半導體元件: LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 ■ 其它元件: 印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估 ■ 介質(zhì)材料: 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估 ■ 磁性材料: 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估 ■ 半導體材料: 半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性 ■ 液晶單元: 介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
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