ZCLK-001A聲學(xué)激光分析儀可以測試電聲產(chǎn)品的性能參數(shù)包括頻響曲線、阻抗曲線、諧波失真、互調(diào)失真、異音測試等。 其中異音測試是傳統(tǒng)測試系統(tǒng)的弱點(diǎn)。所謂異音（rub and buzz ）是指用掃頻信號測試揚(yáng)聲器時，產(chǎn)生惱人的雜音，是由系統(tǒng)非線性引起的。異音的產(chǎn)生大多是由揚(yáng)聲器的制造缺陷引起的，例如松散的振膜，松散的線圈，非中心振膜，線圈的摩擦，漏氣或其他缺陷。這些缺陷造成短脈沖具有突然變化的瞬時能量，從而產(chǎn)生令人耳不安的雜音。經(jīng)過訓(xùn)練的聽音者可以有效地分辨出異音，但需要耗費(fèi)大量的人力物力，且聽力疲勞會降低測試的準(zhǔn)確性，因此不適合用于生產(chǎn)線上的產(chǎn)品測試。
型號
ZCLK-001A
頻率范圍
20-2000Hz
頻帶均勻度
20-20000Hz±1dB
100dB
102.4ks/s
≤0.5%（全頻段）
9Vrms
200mA
AC 220V+10%，3A DC 24V±10%，0.5A
5~40°C
0~60°C
不大于 RH90%
86kPa~104kPa
200mm（寬）×350mm（深）×250mm（高）
6KG（凈重）
主要關(guān)鍵揚(yáng)聲器參數(shù)（Rms、Kms、BL、Re、Res、FO、Mms、Cms、Qms、Qes、Qts）等電和機(jī)械特性參數(shù)
可實現(xiàn)單點(diǎn)和多點(diǎn)的揚(yáng)聲器振膜位置監(jiān)控。分析產(chǎn)品在不同的輸入功率下和音膜振動位移的關(guān)系、振膜搖擺分割振動狀態(tài)。測試揚(yáng)聲器音膜的振動對稱，以及多點(diǎn)位置下的位移一致性，分析產(chǎn)品分割振動模態(tài)。
包含（FR、SPL、THDHD、HOHD、Rub&buzz、BBN 、IMP、Puresound ）優(yōu)點(diǎn)能夠符合一般聲學(xué)廠商的聲學(xué)性能測試要求，簡潔方便既可以作為研發(fā)分析用，也可以作為產(chǎn)線批量檢測用。本設(shè)備集成目前主流聲學(xué)測試應(yīng)用軟件，并推陳出新，并根據(jù)聲學(xué)業(yè)內(nèi)20年的應(yīng)用經(jīng)驗添加真正能夠代替人耳純音的測試功能。配合合適的硬件能夠完全代替人耳測試純音。
可以在給揚(yáng)聲器測試信時候附加一個正向或則負(fù)向的DC ofiset，讓揚(yáng)聲器工作時音圈位置正偏或則負(fù)偏。通過電壓回采測試實際揚(yáng)聲器兩端偏置電壓，并通過激光實時測試揚(yáng)聲器音膜的偏置位移。并測試出在各個不同偏置位移下的聲學(xué)性能指標(biāo)，包括（FR、THDHOHD、純音）等變化趨勢。
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